عنوان پایان نامه: يک روش خودآزمون توکار برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشهپايان نامه براي دريافت درجة كارشناسي ارشد در رشته مهندسی کامپیوتر (.M.Sc) گرایش: نرم افزارقالب بندی: wordتعداد صفحات: 118شرح مختصر:مطالبات در محاسبات آینده و همچنین چالشهای طراحی مدارات مجتمع با تراکم بالا برای تکنولوژی نانومتر نیازمند روشها و سبکهای جدیدی در طراحی هستند، که بطور قطع این روشها از کارائی بالا و مصرف توان پایین و همچنین مقاومت بالا در برابر نویز و تغییرات فرایند برخوردار خواهند بود. یکی از مشکلات بارز، مکانیزم ارتباطی است که بایستی بین تعداد رو به افزایش بلاکها یا هستهها که میتوانند درون یک تراشه تعبیه شوند، برقرار شود. با تداوم کوچک سازی مدارات در تکنولوژی نانومتر، نواقص و اشکالات یک چالش جدی برای ساخت مدارات مجتمع با میلیونها ترانزیستور خواهند شد. بنابراین راه حلهایی بایستی جهت آشکارسازی اشکالات اتصالات سیستم ـ برـ تراشه توسعه داده شود.ایده اصلی ما، ارائه یک معماری آزمایش مبتنی بر روش خود آزمون توکار با کارایی بالا برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه است. برای آزمایش اتصالات بین هستهها، این معماری نقش بسزایی در کاهش چشمگیر زمان کاربرد آزمایش ایفا میکند بطوریکه در آن از قابلیت آزمایش بیرونی استاندارد IEEE1500 در مد سریال استفاده شده است. مد سریال آزمایش بیرونی استاندارد IEEE 1500 اساسأ برای آزمایش اتصالات در فرکانسهای بالا با سرعت عملکردی تراشه هدفمند نشده است.بنابراین، ما با تغییرات کمی که در سلولهای این استاندارد انجام داده ایم، معماری جدیدی طراحی شده است که در آن با بکارگیری روش خود آزمون توکار یک آزمایش با سرعت عملکردی تراشه برای اتصالات فراهم شده است، بطوریکه با شبیه سازی و سنتز معماری پیشنهادی نشان دادیم که زمان آزمایش اتصالات بین هسته های سیستم ـ برـ تراشه از 87% برای یک کانال 8 بیتی، تا 98% برای یک کانال 64 بیتی، نسبت به روشهای آزمایش سنتی بهبود یافته است. از طرفی، در مساحت سلول های توسعه داده شده در معماری پیشنهادی در طرف فرستنده، گیرنده و هر دو جهت اتصالات بترتیب 26%، 22% و 17% نسبت حالت استاندارد افزایش داشته ایم.فهرست مطالب:فصل اول مقدمه 1ـ1ـ مقدمه ........................................................................................21ـ2ـ بیان مسئله ...............................31ـ3ـ سوابق و ضرورت انجام تحقیق..............................................81ـ4ـ فرضیه های تحقیق...........................................................................91ـ5ـ اهداف تحقیق...........................................................................................101ـ6ـ جنبه های کاربردی تحقیق................................................111ـ7ـ جنبه نوآوری تحقیق...........................................................111ـ8ـ روش انجام تحقیق..........................................................................121ـ9ـ روش و ابزار گردآوری اطلاعات.......................................................121ـ10ـ ساختار پایان نامه..............................................................12 فصل دوم مفاهیم عمومی آزمایش سیستم-بر-تراشه2-1 مقدمه ..................................................................152-2 آزمایش و سناریو آن ........................................................................................152-3 کاربردهای آزمایش ...........................................................................162-3-1 آزمایش خارجی ......................................................................................162-3-1-1 آزماینده خارجی ....................................................................172-3-2 آزمایش درونی ............................................................................................ 212-3-2-1 خودآزمون توکار .................................................... 222-4 استاندارد IEEE 1500 ........................................................................252-4-1 کاربرد استاندارد IEEE 1500 ................................................302-5 جمع بندی .............................................................................36 فصل سوم مروری بر کارهای انجام شده3-1مقدمه....................................................................................383-2کارهای انجام شده...................................................................... 383-2-1 مدل سازی و تجزیه و تحلیل دقت سیگنال ..................................... 383-2-2 روش های آزمایش اشکالات همشنوایی .......................................... 403-2-3 سلول حسگر دقت سیگنال ................................................................ 413-2-4 معماری پیمایش مرزی تغییریافته و استانداردهای آزمایش IEEE ....................42 3-3جمع بندی.....................................................................44 فصل چهارم الگوهای آزمایش برای اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه4-1مقدمه ...............................................................................................464-2مدل اشکال همشنوایی............................................................... 464-3مدل MAFو توسعه یافته آن، مدل MVT..................................................474-4سخت افزار مولد الگوهای آزمایش ................................................................ 514-5جمع بندی .............................................................................53 فصل پنجم معماری پیشنهادی برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه 5-1مقدمه ...................................................................555-2معماری آزمایش .................................................................................. 555-2-1 سلول مرزی پیچنده با قابلیت پیکربندی مجدد مبتنی بر خودآزمون توکار................... 565-2-2 سلول مرزی پیچنده آنالیز کننده پاسخ..................................... 585-2-3 دستورالعمل جدید آزمایش.................................................. 635-3 جمع بندی ..........................................................64 فصل ششم ارزیابی معماری آزمایش پیشنهادی توسط شبیه سازی و سنتز6-1 مقدمه .....................................................................................676-2 شبیه سازی و سنتز معماری پیشنهادی ........................................... 676-3 جمع بندی ..............................................................................70 فصل هفتم نتیجه گیری و پیشنهادها7-1 مقدمه .............................................................................727-2 نتایج حاصل از تحقیق .................................................................... 737-3 نوآوری تحقیق...........................................................................737-4 پیشنهادها..................................................................................73مراجع.......................75پیوست .............................................................................81واژه نامه......................................................................95چکیده انگلیسی .................................................................... 101 فهرست شکلهاعنوان صفحهشکل 1-1.سیستم ـ برـ تراشه شامل هسته های سلسله مراتبی و منطق تعریف شده توسط کاربر......... 4شکل 1-2. ساختار ارتباطی یک سیستم ـ برـ تراشه مبتنی بر یک گذرگاه ارتباطی مشترک.................... 4شکل 1-3. ساختار ارتباطی یک سیستم ـ برـ تراشه مبتنی بر یک گذرگاه ارتباطی سلسله مراتبی........ 5شکل 2-1. یک سناریو از آزمایش ............................................................. 16شکل 2-2. آزمایش خارجی یک بورد ............................................................. 17شکل 2-3. آزمایش یک بورد با استفاده از آزماینده خارجی................................ 18شکل 2-4 . فرایند تولید و آزمایش سیستم های مبتنی بر بورد....................... 19شکل 2-5. فرایند تولید و آزمایش سیستم-بر-تراشه.................................. 20شکل 2-6. آزمایش درونی ....................................................................21شکل 2-7. ترکیبات مورد نیاز در تکنیک خود آزمون توکار............................... 25شکل 2-8. معماري مکانیزم دسترسی آزمایش براي هسته هاي تعبيهشده كه شامل منبع ، چاله ، مکانیزم دسترسی آزمایشها ، پيچنده................................................................................. 28شکل.................................................................. 28شکل 2-10. سلولهای مرزي پیچنده برای (الف) سلول ورودي مرزی و (ب) سلول م................. 29شکل 2-11. درگاه سریال پیچنده............................................................. 31شکل 2-12. معماري قابل گسترش 1500......................................... 33شکل 2-13. مدهاي متنوع عملكرد پيچنده.......................................... 36شکل4-1. اشکالات همشنوایی : (الف)پالس ناخواسته منفی (ب)پالس ناخواسته مثبت (ج)تاخیر بالارونده (د)تاخیر پایین رونده................... 48شکل 4-2. آزمایش سه خط قربانی بطور همزمان در یک حالت از............................. 49شکل 4-3. روش توسعه یافته برای تولید دنباله آزمایش در م.............................. 50شکل 4-4. مولد الگوی آزمایش : الف) سخت افزار مولد الگوی آزمایش (ب) سخت افزار کنترل کننده مولد (ج) زمانبندی سیگنالهای کنترلی توسط کنترل کننده............................................. 53شکل 5-1. معماری آزمایش: آزما.................................................................. 58شکل 5-4. سلول سنسور دقت سیگنال...........................................................60شكل 5-5. سیگنالهای سنسور دقت سیگنال و رفتار زمانی آنها....................... 60شكل 5-6 . شبیه سازی HSPICE سلول سنسور دقت سیگنال................................. 61شکل 5-7. ساختار WRABC.....................................................62شکل 5-8. جریان دادهها در سلولهای WBRBC و WRABC (الف) با اجرای دستورالعمل WBEXTEST و (ب) تسخیر نتایج و انتقال آنها به خارج از تراشه ....................................................... 64شکل 6-1. درصد کاهش زمان کاربرد آزمایش به ازای مقادیر مختلف برای N و K.......................................70 فهرست جداولعنوان صفحهجدول 4-1. دنباله آزمایش برای و (N=8,K=2) و متمم دنباله آزمایش برای(N=8,K=2).................. 50جدول 6-1. سربار مساحتی مولد الگوی آزمایش و کنترل کننده آن................................ 68جدول 6-2 . مقایسه سربار مساحتی سلولهای پیمایش مرزی (تعداد گیت).............................. 68جدول 6-3. زمان کاربرد آزمایش الگوهای MVT (تعداد سیکل کلاک)............................ 69جدول 6-4. مینیمم تأخیر قابل آشکار سلول سنسور دقت سیگنال..........................................69
پایان نامه يک روش خود آزمون توکار برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه
عنوان پایان نامه: يک روش خودآزمون توکار برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشهپايان نامه براي دريافت درجة كارشناسي ارشد در رشته مهندسی کامپیوتر (.M.Sc) گرایش: نرم افزارقالب بندی: wordتعداد صفحات: 118شرح مختصر:مطالبات در محاسبات آینده و همچنین چالشهای طراحی مدارات مجتمع با تراکم بالا برای تکنولوژی نانومتر نیازمند روشها و سبکهای جدیدی در طراحی هستند، که بطور قطع این روشها از کارائی بالا و مصرف توان پایین و همچنین مقاومت بالا در برابر نویز و تغییرات فرایند برخوردار خواهند بود. یکی از مشکلات بارز، مکانیزم ارتباطی است که بایستی بین تعداد رو به افزایش بلاکها یا هستهها که میتوانند درون یک تراشه تعبیه شوند، برقرار شود. با تداوم کوچک سازی مدارات در تکنولوژی نانومتر، نواقص و اشکالات یک چالش جدی برای ساخت مدارات مجتمع با میلیونها ترانزیستور خواهند شد. بنابراین راه حلهایی بایستی جهت آشکارسازی اشکالات اتصالات سیستم ـ برـ تراشه توسعه داده شود.ایده اصلی ما، ارائه یک معماری آزمایش مبتنی بر روش خود آزمون توکار با کارایی بالا برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه است. برای آزمایش اتصالات بین هستهها، این معماری نقش بسزایی در کاهش چشمگیر زمان کاربرد آزمایش ایفا میکند بطوریکه در آن از قابلیت آزمایش بیرونی استاندارد IEEE1500 در مد سریال استفاده شده است. مد سریال آزمایش بیرونی استاندارد IEEE 1500 اساسأ برای آزمایش اتصالات در فرکانسهای بالا با سرعت عملکردی تراشه هدفمند نشده است.بنابراین، ما با تغییرات کمی که در سلولهای این استاندارد انجام داده ایم، معماری جدیدی طراحی شده است که در آن با بکارگیری روش خود آزمون توکار یک آزمایش با سرعت عملکردی تراشه برای اتصالات فراهم شده است، بطوریکه با شبیه سازی و سنتز معماری پیشنهادی نشان دادیم که زمان آزمایش اتصالات بین هسته های سیستم ـ برـ تراشه از 87% برای یک کانال 8 بیتی، تا 98% برای یک کانال 64 بیتی، نسبت به روشهای آزمایش سنتی بهبود یافته است. از طرفی، در مساحت سلول های توسعه داده شده در معماری پیشنهادی در طرف فرستنده، گیرنده و هر دو جهت اتصالات بترتیب 26%، 22% و 17% نسبت حالت استاندارد افزایش داشته ایم.فهرست مطالب:فصل اول مقدمه 1ـ1ـ مقدمه ........................................................................................21ـ2ـ بیان مسئله ...............................31ـ3ـ سوابق و ضرورت انجام تحقیق..............................................81ـ4ـ فرضیه های تحقیق...........................................................................91ـ5ـ اهداف تحقیق...........................................................................................101ـ6ـ جنبه های کاربردی تحقیق................................................111ـ7ـ جنبه نوآوری تحقیق...........................................................111ـ8ـ روش انجام تحقیق..........................................................................121ـ9ـ روش و ابزار گردآوری اطلاعات.......................................................121ـ10ـ ساختار پایان نامه..............................................................12 فصل دوم مفاهیم عمومی آزمایش سیستم-بر-تراشه2-1 مقدمه ..................................................................152-2 آزمایش و سناریو آن ........................................................................................152-3 کاربردهای آزمایش ...........................................................................162-3-1 آزمایش خارجی ......................................................................................162-3-1-1 آزماینده خارجی ....................................................................172-3-2 آزمایش درونی ............................................................................................ 212-3-2-1 خودآزمون توکار .................................................... 222-4 استاندارد IEEE 1500 ........................................................................252-4-1 کاربرد استاندارد IEEE 1500 ................................................302-5 جمع بندی .............................................................................36 فصل سوم مروری بر کارهای انجام شده3-1مقدمه....................................................................................383-2کارهای انجام شده...................................................................... 383-2-1 مدل سازی و تجزیه و تحلیل دقت سیگنال ..................................... 383-2-2 روش های آزمایش اشکالات همشنوایی .......................................... 403-2-3 سلول حسگر دقت سیگنال ................................................................ 413-2-4 معماری پیمایش مرزی تغییریافته و استانداردهای آزمایش IEEE ....................42 3-3جمع بندی.....................................................................44 فصل چهارم الگوهای آزمایش برای اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه4-1مقدمه ...............................................................................................464-2مدل اشکال همشنوایی............................................................... 464-3مدل MAFو توسعه یافته آن، مدل MVT..................................................474-4سخت افزار مولد الگوهای آزمایش ................................................................ 514-5جمع بندی .............................................................................53 فصل پنجم معماری پیشنهادی برای آزمایش اتصالات در سیستم ـ برـ تراشه 5-1مقدمه ...................................................................555-2معماری آزمایش .................................................................................. 555-2-1 سلول مرزی پیچنده با قابلیت پیکربندی مجدد مبتنی بر خودآزمون توکار................... 565-2-2 سلول مرزی پیچنده آنالیز کننده پاسخ..................................... 585-2-3 دستورالعمل جدید آزمایش.................................................. 635-3 جمع بندی ..........................................................64 فصل ششم ارزیابی معماری آزمایش پیشنهادی توسط شبیه سازی و سنتز6-1 مقدمه .....................................................................................676-2 شبیه سازی و سنتز معماری پیشنهادی ........................................... 676-3 جمع بندی ..............................................................................70 فصل هفتم نتیجه گیری و پیشنهادها7-1 مقدمه .............................................................................727-2 نتایج حاصل از تحقیق .................................................................... 737-3 نوآوری تحقیق...........................................................................737-4 پیشنهادها..................................................................................73مراجع.......................75پیوست .............................................................................81واژه نامه......................................................................95چکیده انگلیسی .................................................................... 101 فهرست شکلهاعنوان صفحهشکل 1-1.سیستم ـ برـ تراشه شامل هسته های سلسله مراتبی و منطق تعریف شده توسط کاربر......... 4شکل 1-2. ساختار ارتباطی یک سیستم ـ برـ تراشه مبتنی بر یک گذرگاه ارتباطی مشترک.................... 4شکل 1-3. ساختار ارتباطی یک سیستم ـ برـ تراشه مبتنی بر یک گذرگاه ارتباطی سلسله مراتبی........ 5شکل 2-1. یک سناریو از آزمایش ............................................................. 16شکل 2-2. آزمایش خارجی یک بورد ............................................................. 17شکل 2-3. آزمایش یک بورد با استفاده از آزماینده خارجی................................ 18شکل 2-4 . فرایند تولید و آزمایش سیستم های مبتنی بر بورد....................... 19شکل 2-5. فرایند تولید و آزمایش سیستم-بر-تراشه.................................. 20شکل 2-6. آزمایش درونی ....................................................................21شکل 2-7. ترکیبات مورد نیاز در تکنیک خود آزمون توکار............................... 25شکل 2-8. معماري مکانیزم دسترسی آزمایش براي هسته هاي تعبيهشده كه شامل منبع ، چاله ، مکانیزم دسترسی آزمایشها ، پيچنده................................................................................. 28شکل.................................................................. 28شکل 2-10. سلولهای مرزي پیچنده برای (الف) سلول ورودي مرزی و (ب) سلول م................. 29شکل 2-11. درگاه سریال پیچنده............................................................. 31شکل 2-12. معماري قابل گسترش 1500......................................... 33شکل 2-13. مدهاي متنوع عملكرد پيچنده.......................................... 36شکل4-1. اشکالات همشنوایی : (الف)پالس ناخواسته منفی (ب)پالس ناخواسته مثبت (ج)تاخیر بالارونده (د)تاخیر پایین رونده................... 48شکل 4-2. آزمایش سه خط قربانی بطور همزمان در یک حالت از............................. 49شکل 4-3. روش توسعه یافته برای تولید دنباله آزمایش در م.............................. 50شکل 4-4. مولد الگوی آزمایش : الف) سخت افزار مولد الگوی آزمایش (ب) سخت افزار کنترل کننده مولد (ج) زمانبندی سیگنالهای کنترلی توسط کنترل کننده............................................. 53شکل 5-1. معماری آزمایش: آزما.................................................................. 58شکل 5-4. سلول سنسور دقت سیگنال...........................................................60شكل 5-5. سیگنالهای سنسور دقت سیگنال و رفتار زمانی آنها....................... 60شكل 5-6 . شبیه سازی HSPICE سلول سنسور دقت سیگنال................................. 61شکل 5-7. ساختار WRABC.....................................................62شکل 5-8. جریان دادهها در سلولهای WBRBC و WRABC (الف) با اجرای دستورالعمل WBEXTEST و (ب) تسخیر نتایج و انتقال آنها به خارج از تراشه ....................................................... 64شکل 6-1. درصد کاهش زمان کاربرد آزمایش به ازای مقادیر مختلف برای N و K.......................................70 فهرست جداولعنوان صفحهجدول 4-1. دنباله آزمایش برای و (N=8,K=2) و متمم دنباله آزمایش برای(N=8,K=2).................. 50جدول 6-1. سربار مساحتی مولد الگوی آزمایش و کنترل کننده آن................................ 68جدول 6-2 . مقایسه سربار مساحتی سلولهای پیمایش مرزی (تعداد گیت).............................. 68جدول 6-3. زمان کاربرد آزمایش الگوهای MVT (تعداد سیکل کلاک)............................ 69جدول 6-4. مینیمم تأخیر قابل آشکار سلول سنسور دقت سیگنال..........................................69