تعداد صفحات 90 صفحه می باشدچکیده: BIST توانايي يك مدار (چيپ، برد يا سيستم) براي تست خود است. BIST تركيبي از دو مفهوم BIT(Built In Test)و Self Test ميباشد و به عنوان معادلي براي اين دو مفهوم بكار ميرود.تكنيكهاي BIST را ميتوان به دو دسته مقوله Off Line BIST و On Line BISTدستهبندي كرد.در On Line BIST، تست در شرايطي صورت ميگيرد كه مدار در حال كار بصورت عادي است ولی LineBISTOff در مورد تست يك سيستم در هنگامي بحث ميكند كه كاركرد نرمال در آن انجام نميشود.در روش LineOff تست نميتواند خطاها را بصورت Real Time يا به عبارت ديگر همينكه اتفاق افتادند، آشكار كند. اين كار ميتواند توسط بسياري از تكنيكهاي On Line Concurrent BIST صورت پذيرد. از آنجا كه LFSRها بطور گسترده در اين رساله استفاده ميشوند، به توضیح آن می پردازیم و بنا به اهمیت آن مطاللعه بیشتر را به علاقه مندان پیشنهاد می شود.کليد واژه: BILBO، LFSR ، MISR، ORA ، PRPG، SISR، SRSG ،TPG
تعداد صفحات 90 صفحه می باشدچکیده: BIST توانايي يك مدار (چيپ، برد يا سيستم) براي تست خود است. BIST تركيبي از دو مفهوم BIT(Built In Test)و Self Test ميباشد و به عنوان معادلي براي اين دو مفهوم بكار ميرود.تكنيكهاي BIST را ميتوان به دو دسته مقوله Off Line BIST و On Line BISTدستهبندي كرد.در On Line BIST، تست در شرايطي صورت ميگيرد كه مدار در حال كار بصورت عادي است ولی LineBISTOff در مورد تست يك سيستم در هنگامي بحث ميكند كه كاركرد نرمال در آن انجام نميشود.در روش LineOff تست نميتواند خطاها را بصورت Real Time يا به عبارت ديگر همينكه اتفاق افتادند، آشكار كند. اين كار ميتواند توسط بسياري از تكنيكهاي On Line Concurrent BIST صورت پذيرد. از آنجا كه LFSRها بطور گسترده در اين رساله استفاده ميشوند، به توضیح آن می پردازیم و بنا به اهمیت آن مطاللعه بیشتر را به علاقه مندان پیشنهاد می شود.کليد واژه: BILBO، LFSR ، MISR، ORA ، PRPG، SISR، SRSG ،TPG