👈فول فایل فور یو ff4u.ir 👉

بررسی تصاويرميکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبديل موجک word

ارتباط با ما

دانلود


بررسی تصاويرميکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبديل موجک word
 چكيده:
یکی از مقادیر خروجی اعمال تبدیلات موجک تقریب سیگنال اصلی است، که نمایش جامعی از داده­ها را به ما می­دهد. البته، این موضوع منوط به استفاده­ی صحیح از مرحله تجزیه و مرتبه تقریب آن دارد. این روند را برای تصاویر SEMلايه­های نازک تهيه شده از نانوذرات مگهمایت در دماهای 400، 500 و 600 انجام دادیم. سپس با اعمال تبدیل موجک به عنوان ابزار سنجش و ضرایب آن به عنوان پارامتر­های مقیاس داده­های تصاویر را با استفاده از نرم افزار متلب بدست آوردیم.
داده­ها شامل جزئیات مرتبه اول، دوم، سوم و همچنین شامل تقریب از پروفایل نماینده است. آنچه که تحلیل اولیه داده­ها نشان می­دهد آن است که با افزایش دما می­بایست اندازه ذرات بزرگتر شده باشد و یا بهتر است بگوییم جزئیات تصویر افزایش یافته است که این افزایش جزئیات بیانگر افزایش لبه­ها و نهایتا افزایش لبه­ها بیانگر عبور از مرز یک ذره است. یعنی، تصاویر مربوط به دماهای 600 و 400 به ترتیب دارای بیشترین و کمترین جزئیات سیگنال است. با توجه به اینکه نمونه 400 در نمودار رادار نزدیکترین فاصله از مرکز رادار را دارد دارای کمترین جزئیات سیگنال است.
واژه­های کلیدی: میکروسکوپ گمانه­ی روبشی (SPM) ، میکروسکوپ الکترونی روبشی(SEM) ، تبدیل موجک (WT) ،تبدیل موج کپیوسته (CWT) ، تبدیل موجک گسسته(DWT) .
فهرست مطالب
فصل اول : طبقه­بندی روش­های تعيين مشخصات مواد براساس نحوه عملكرد. 3
مقدمه. 3
1-1 روش­های ميكروسكوپي.. 4
1-2 روش­های براساس پراش.... 4
1-3 روش­های طيف سنجي.. 5
1-4 روش­های جداسازي.. 5
1-5سوزن­ها8
1-6نحوة بر هم كنش سوزن با سطح.. 9
1-7مدهاي تماسي.. 10
1-8میکروسکوپ گمانه ی روبشی SPM... 11
1-8-1میکروسکوپ­های پروبی- روبشی.. 11
1-8-2میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)13
1-8-3میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)14
1-8-4میکروسکوپ روبشی جریان تونلی.. 18
1-8-5میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)18
1-8-6میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM)22
1-8-7ميكروسكوپ روبشي تونلي (STM) :22
فصل دوم : لایه­نشانی.. 26
مقدمه. 27
2-1تعریفلایه­نشانی.. 28
2-2 تاریخچه لایه­های نازک... 28
2-3تقسیم بندیلایه­ها از نظر ضخامت... 29
2-4 تقسیم بندیلایه­ها بر اساس رسانایی.. 30
2-5 عوامل مؤثر در کیفیتلایه­های نازک... 30
2-6 فرایندهایلایه­نشانی.. 31
2-6-1 فرایند تبخیر فیزیکی.. 31
2-6-2 روش پراکنشی (کند و پاش)32
2-6-3 تبخیر با باریکه الکترونی(E.Beam)33
فصل سوم : تبدیل فوریه ، تبدیل فوریه­ی زمان کوتاهو تبدیل موجک.... 35
مقدمه. 36
3-1تبدیل فوریه و تبدیل فوریه­ی زمان کوتاه (پنجره)37
3-2تبدیل موجک.... 40
3-3مقياس گذاري.. 43
3-4 انتقال.. 43
3-2-1تبدیل موجک پیوسته CWT. 44
3-2-2تبدیلموجکگسسته DWT. 47
فصل چهارم : بحث و نتایج.. 49
مقدمه. 50
4-1 مواد و روش ساخت... 51
4-1-1 مواد آزمایش.... 51
4-1-2 روش ساخت... 51
4-2 بكارگيري موجك درتصاویر SEM... 53
4-2-1 پارامترمقیاس.... 53
4-2-2 انتخاب تبدیلات موجک.... 54
4-2-3 ویژگی خانواده­یتبدیلات موجک.... 54
4-2-4 پروفایل نماینده54
4-2-5 پردازش تصویر. 55
4-2-6 تحلیل داده با استفاده از نمودار59
4-2-7 معرفی نمودارها59
4-2-8 رسم نمودار داده­های مربوط به جزئیات... 59
4-2-9 رسم نمودار تقریب مرتبه سوم. 61
منابع 64
فهرست اشکال
شکل 1-1 دسته بندی کلی روش­هایوآنالیز مواد. 7
شكل1-2انواعشکل­هایسوزنشاملنوكتخت،نوككروي،نوك T شكلونوكتيز. 8
شكل 1-3 سمت چپ: نمايش نمادين بزرگي تغييرات نيروي بين سوزن و سطح در فواصل مختلف سوزن از سطح سمت راست: انحراف تيرك حين رفت و برگشت در نواحي مختلف فاصله از سطح (نيروي جاذبه يا دافعه).9
شکل 1-4 مقايسهنمادينبينحالتتماسيوحالتغيرتماسي.. 10
شکل 1-5 تصویر (a)یک قطعه پیزوالکتریک (b)پروب (سوزن)12
شکل 1-6 طرحی از یک میکروسکوپیک الکترونی.. 14
شکل 1-7 شماتيك اصول عملكرد AFM... 15
شکل 1-8 ساختار هندسه سه بعدي واحدهاي حافظه CD تهيه شده توسط AFM (هرواحدافقي نمودار 250 نانومتر ودرجه عمودي 75 نانومتر)16
شکل 1-9 تصویر یک نوع میکروسکوپ نیروی اتمی.. 17
شکل 1-10 تصوير الكتروني روبشي سطح يك فلز با مقياس يك ميكرون اجزاء اصلي و حالت كاري يك SEM ساده19
شکل 1-11 (a) طرحی از یک میکروسکوپیک الکترونی (b) شکل واقعی میکروسکوپ الکترونی.. 20
شکل1-12 نمودارشماتيكياجزاءاصلييكميكروسكوپالكترونيروبشي.. 20
شکل 1-13 نمايشنماديناجزاياصليواصولعملكرددستگاه STM... 23
شکل 1-14 مسير سوزن در مد جريان ثابت... 24
شکل1-15ساختاراتمي يك نانوتيوب تك جداره کربن توسطSTM... 25
شکل 2-1 طرحی از یک دستگاه کندوپاش.... 33
شکل 2-2 تصویر دستگاه کندوپاش تبخیر فیزیکی.. 34
شکل 3-1 روند تبديل فوريه­ی زمان كوتاه38
شکل 3-2 نمایش تبدیل فوریه­ی زمان کوتاه یک سیگنال. طول پنجره زمانی در طول کل زمان سیگنال ثابت است.40
شکل 3-3 تفکیک سیگنال بهموجک­های مادر تشکیل دهنده آن با استفاده از ضرائب تبدیل موجک.... 41
شکل 3-4 نحوه عمل در تبديل موجك.... 42
شکل 3-5 اثر scale factor بر روي يك موجك.... 43
شکل 3-6 انتقال يك موجك.... 43
شكل 3-7 مرحله دوم تبديل موجك پيوسته. 46
شکل 3-8 مرحله سوم تبديل موجك پيوسته. 46
شکل 3-9 مرحله چهارم تبديل موجك پيوسته. 46
شكل 3-10 نمایشی از قدرت تفکیک زمان و بسامد. 48
شكل 4-1 تصویر SEM لایه نازک مگهمایت در دمای ℃600........................................................................ 53
شکل 4-2 جزئیات مرتبه اول D1، دوم D2 ، سوم D3 و تقریب A3 از پروفایل نمایندة مربوط به دمای ℃ 400 56
شکل 4-3جزئیات مرتبه اول D1، دوم D2 ، سوم D3 و تقریب A3 از پروفایل نمایندة مربوط به دمای ℃ 500 57
شکل 4-4 جزئیات مرتبه اول D1، دوم D2 ، سوم D3 و تقریب A3 از پروفایل نمایندة مربوط به دمای ℃ 600 58
شكل 4-5مقایسهجزئیات مرتبه 1 تصاویرSEM لایه­های نازک مگهمایت در دماهای℃ 400،℃ 500،℃600 59
شكل 4-6مقایسهجزئیات مرتبه 2 تصاویر SEM لایه­های نازک مگهمایت در دماهای℃ 400،℃ 500،℃600 60
شكل 4-7مقایسهجزئیات مرتبه 3 تصاویر SEMلایه­های نازک مگهمایت در دماهای℃ 400،℃ 500،℃600 60
شكل 4-8نمایش تغییرات پروفایل داده­های تصاویرنانو ذرات مگهمایتدر دماهای℃ 400، ℃ 500، ℃600 62
فهرست جدول­ها
جدول 1-1 طبقه­بندی تجهيزات شناسايي بر مبناي خاصيت فيزيكي مورد اندازه­گیری.. 6
طبقه­بندي روش­های تعيين مشخصات مواد براساس نحوه عملكرد[4-1].
مقدمه:
پيشرفت­هاي اخير در فناوري نانو مربوط به توانايي­هاي جديد در زمينه اندازه­گيري و كنترل ساختارهاي منفرد در مقياس نانو مي­باشد.
در علوم مختلف مهندسي، موضوع اندازه­گيري و تعيين مشخصات از اهميت كليدي برخوردار است به طوري كه ويژگي­هاي فيزيكي و شيميايي مواد، به مواد اوليه­ی مورد استفاده و همچنين ريزساختار يا ساختار ميكروسكوپي به دست آمده از فرايند ساخت بستگي دارد.
به عنوان مثال براي شناسايي مواد ، بديهي است كه نوع و مقدار ناخالصي­ها، شكل و توزيع اندازه ذرات، ساختار بلورين و مانند آن در ماهيت و مرغوبيت محصول اثر دارند.
در ضمن براي مطالعه ريزساختارها، نياز بيشتري به ابزارهاي شناسايي و آناليز وجود دارد. در ريزساختار يا ساختار ميكروسكوپي مواد، بايد نوع فازها، شكل، اندازه، مقدار و توزيع آن­ها را بررسي كرد. در ادامه با توجه به اهميت دستگاه­ها و روش­هاي اندازه­گيري و تعيين مشخصات به طبقه­بندي اين روش­ها پرداخته می­شود.
 
1-1 روش­هاي ميكروسكوپي
با استفاده از روش­هايميكروسكوپي تصاويري با بزرگنمايي بسيار بالا از ماده بدست می­آید. قدرت تفكيك تصاوير ميكروسكوپي با توجه به كمترين قدرت تمركز اشعه محدود می­شود. به عنوان مثال با استفاده از ميكروسكوپ­هاي نوري با قدرت تفكيكي در حدود 1 ميكرومتر و با استفاده از ميكروسكوپ­هاي الكتروني، و يوني با قدرت تفكيك بالا در حدود يك آنگسترم قابل دسترسي است. اين روش­ها شامل [1]TEM،[2]AFM ،[3]SEM ،[4]STMمی­باشد[6،5].
 
1-2 روش­هاي براساس پراش
پراش يكي از خصوصيات تابش الكترومغناطيسي می­باشد كه باعث می­شود تابش الكترومغناطيس در حين عبور از يك روزنه و يا لبه منحرف شود. با كاهش ابعاد روزنه به سمت طول موج اشعه الكترومغناطيسي اثرات پراش اشعه بيشتر خواهد شد. با استفاده از پراش اشعه ايكس، الكترونها و يا نوترونها و اثر برخورد آن­ها با ماده می­توان ابعاد كريستالي مواد را اندازه­گيري كرد. الكترونها و نوترونها نيز خواص موجي دارند كه طول موج آن به انرژي آن­ها بستگي دارد. علاوه بر اين هر كدام از اين روش­ها خصوصيات متفاوتي دارند. مثلا عمق نفوذ اين سه روش در ماده به ترتيب زير مي­باشد. نوترون از اشعه ايكس بيشتر و اشعه ايكس از الكترون بيشتر می­باشد.
1-3 روش­هاي طيف سنجي
استفاده از جذب، نشر و يا پراش امواج الكترومغناطيس توسط اتم­ها و يا مولكول­ها را طيف سنجي گويند.برخورد يك تابش با ماده می­تواند منجر به تغيير جهت تابش و يا تغيير در سطوح انرژي اتم­ها و يا مولكول­ها شود، انتقال از تراز بالاي انرژي به تراز پايينتر، نشر و انتقال از تراز پايين انرژي به تراز بالاتر، جذب ناميده مي­شود. تغيير جهت تابش در اثر برخورد با ماده نيز منجر به پراش تابش مي­شود.
طيف سنجي جرمي
روش­هاي طيف سنجي جرمي از تفاوت نسبت جرم به بار اتم­ها و يا مولكول­ها استفاده مي­کنند. عملكرد عمومي يك طيف سنجي جرمي بصورت زير است:
1 - توليد يون­هاي گازي
2 - جداسازي يون­ها براساس نسبت جرم به بار
3 - اندازه­گيري مقدار يون­ها با نسبت جرم به بار ثابت
1-4 روش­هاي جداسازي
در نمونه­هايي كه حاوي چند جز نا شناخته باشد، ابتدا بايد از هم جدا شده و سپس اجزا توسط روش­هاي آناليز مشخص می­شود. جداسازي براساس تفاوت در خصوصيات فيزيكي و شيميايي صورت می­گيرد. به عنوان مثال حالت ماده، چگالي و اندازه از خصوصيات فيزيكي مورد استفاده و حلاليت نقطه جوش و فشار بخار از خواص شيميايي مورد استفاده در جداسازي مي­باشد.
 
 
[1]Tunneling Electron Microscopic
[2]Atomic Force Microscopic
[3]Scanning Electron Microscopic
[4]Scanning Tunneling Microscopic

👇 تصادفی👇

مجموعه رباعی "از کوچه" محمدمسعود کرمیدانلود لایه shapefile مرز شهرستان باغ ملکجزوه کامل درس علم موادپروژه PLCآزمون لطف آبادي براي سنجش رشد اخلاقي نوجوانان و جوانان (فرم پرسشنامه)گزارش کارآموزی ماشین های کشاورزی، تنظيمات كلي كمباينكتاب طلسم و ادعيه و علوم غريبهفایل سوم نسخه صوتی اسرار قدرت درونآموزش نرم افزار Captivate ✅فایل های دیگر✅

#️⃣ برچسب های فایل بررسی تصاويرميکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبديل موجک word

بررسی تصاويرميکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبديل موجک word

دانلود بررسی تصاويرميکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبديل موجک word

خرید اینترنتی بررسی تصاويرميکروسکوپ گمانه روبشی با استفاده از تبديل موجک word

👇🏞 تصاویر 🏞